X射线膜厚仪通用的金属标准片

X射线膜厚仪通用的金属标准片Au2uinch/xx是单镀层标样，它是美国Calmetrics专业生产的，是用来为各*的X射线镀层测厚仪建立测试标准化档案的，同时，也是检验和校准测厚仪的的标准件。X射线膜厚仪通用的金属标准片Au2uinch/xx即是金元素镀层两微英寸的标准厚度。每块标准片出厂都附有原厂校验证书。

美国Calmetrics公司专业生产X射线荧光镀层薄膜标准件及元素含量标准件，提供对标准件的校准服务，公司通过ISO/IEC 17025认证。公司提供所有证书符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。其生产的标准片质量精良，精度高、稳定性好。
Calmetrics镀层标准片适用于费希尔Fischer、韩国ISP、日立Hitachi（包括：牛津仪器Oxford（CMI）、精工Seiko）热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌的测厚仪。
X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如：单镀层：Au/xx，双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx，合金镀层：Ni-P/xx。
镀层标准片适用于X射线类仪器的标准。市面上绝大多部分的手持式荧光仪的厚度标准件都来自于美国Calmetrics公司。
X射线标准片又叫膜厚仪校准片或者镀层厚度标样，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片：
专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线，之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。
对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

我司代理CalMetrics一系列镀层标准片，适用于费希尔Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、博曼BOWMAN、禾苗、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）。
1.薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）； 铑（Rh）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.
2.镀层标准片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。
3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.定制厚度范围：0.01~100μm.

特点：镀层标准片质量精良，精度高、X-Ray仪器标准片。

一体式标样又分单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。
例如：单镀层：Ag/Cu，双镀层：Au/Ni/Cu， 三镀层：Au/Ni/Cu/Fe，合金镀层：Zn-Ni/Fe， 化学镀层：Ni-P/Fe。（所有标准片都附有证书）

1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等。
2.镀层标准片（一体式）：单镀层：Ag/Cu，双镀层：Au/Ni/Cu， 三镀层：Au/Ni/Cu/Fe，合金镀层：Zn-Ni/Fe， 化学镀层：Ni-P/Fe等。
3.合金标准片（薄片式）：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等。
4.测量厚度范围：0.01-120μm。
我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国Calmetrics公司申请定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书，也可代客户送检第三方CNAS资质机构校验（广州计量）并出具校验证书等优质服务。