产品分类
您现在的位置:首页 > 产品展示 > X射线荧光光谱仪 > X射线镀层测厚仪 > iEDX-150WTX射线荧光光谱镀层厚度分析仪

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪

简要描述:

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪,1.镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高。2.平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm。(固定台可选)3.激光定位和自动多点测量功能。4.可检测固体、粉末状态材料。5.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。6.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

更新时间:2023-04-24

品牌ISP/韩国价格区间20万-50万
产地类别进口应用领域环保,化工,电子

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪产品概述:

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备

产品名称:镀层厚度测试仪

型    号:iEDX-150WT

生 产 商:韩国ISP公司

**地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

产品图片:

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪iEDX-150WT

工作条件

●工作温度:15-30℃

●电源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

●相对湿度:<70%,无结露

●功率:150W + 550W


产品优势及特征

(一)产品优势

镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。

平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm。(固定台可选)

激光定位和自动多点测量功能。

可检测固体、粉末状态材料。

运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

操作简单、易学易懂、无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

软件*升级。

无损检测,一次性购买标样可使用。

使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务。

可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

可进行RoHS检测(选配功能),测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

(二)产品特征

高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行的镀层厚度分析。

可以增加RoHS检测功能。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

测试能力(基本配置:PIN探测器+0.3准直器)

当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S

准确度规格 ±5%

度规格<5%(COV变动率)

当化金厚度 >5u〞时,测量时间为40S

准确度规格 ±5%

度规格<5%(COV变动率)

当化银厚度在5u〞-15u〞时,测量时间为40S

准确度规格 ±8%

度规格<7%(COV变动率)

测化锡时,测量时间为40S

准确度规格 ±8%

度规格<6% (COV变动率)

准确度公式:准确度百分比=(测试10次的平均值-真值)/真值*100%

度COV公式: (S/10次平均值)*100%

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等

自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供性能。

探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。

激光定位、简易荷载大负载量为5公斤

软件控制程序进行持续性自动测量

样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式

- 软件控制取得高真图像

计算机、打印机(赠送)

含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

含Win 7/Win 10系统。

Multi-Ray镀层分析软件

注:设备需要配备稳压器,需另计。

产品配置及技术指标说明

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV,1mA

u过滤器:5过滤器自动转换

u检测系统:Pin探测器(可选SDD)

u能量分辨率:159eV(SDD:125eV)

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:840*613*385mm

u样品移动距离:220*220*10 mm(自动台)






留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
客户至上 用心服务
在线客服
Baidu
map