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膜厚仪(X射线镀层测厚仪)

简要描述:

广州鸿熙电子科技有限公司于2013年7月13日成立。公司位于珠三角交通枢纽广州市增城区新塘镇。创始人在著名跨国科研仪器公司任职逾12年,对科研仪器行业有非常丰富的经验。广州鸿熙电子科技有限公司是韩国ISP和中国善时仪器(Sense)的战略合作伙伴。膜厚仪iEDX-150WT,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 产品名称:膜厚仪;型 号:iEDX-150WT生 产 商:韩国ISP公司

更新时间:2023-04-24

品牌ISP/韩国价格区间20万-50万
产地类别进口应用领域环保,化工,地矿,能源,电子

公司介绍

 

广州鸿熙电子科技有限公司于2013年7月13日成立。公司位于珠三角交通枢纽广州市增城区新塘镇。创始人在著名跨国科研仪器公司任职逾12年,对科研仪器行业有非常丰富的经验。

公司的分析光谱仪,集镀层厚度、金属成份分析、RoHS检测于一体,具备*的性价比。产品广泛应用于电子制造、矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械等行业对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着*的经济价值。经过大量环境试验、生物实验及相关检测实验中心的数据验证,本公司所生产的分析光谱仪的度及性能居同行业地位。

公司研发队伍强劲,并与韩国X射线研究所、美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授携手合作,以欧美现有技术为基础,在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时,还拥有40多项*的技术和差异化产品,多项核心技术处于水平。公司与韩国ISP的合作产品在中国大陆主要以客户为主,其以优质的性价比获得了客户的*。

 

膜厚仪产品优势及特征

(一)产品优势

1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述

2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm(固定台可选)

3. 激光定位和自动多点测量功能。

  • 可检测固体、粉末状态材料。
  • 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
  • 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
  • 操作简单、易学易懂、无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
  • 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
  • 软件*升级。
  • 无损检测,一次性购买标样可使用。
  • 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务。
  • 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
  • 可进行RoHS检测(选配功能),测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

(二)产品特征

  • 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
  • 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

  • Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行的镀层厚度分析。

可以增加RoHS检测功能。

  • MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

  • 测试能力(基本配置:PIN探测器+0.3准直器

 

   当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S

   准确度规格 ±5% 

   度规格 <5%(COV变动率)

 

   当化金厚度 >5u〞时,测量时间为40S

   准确度规格 ±5%

   度规格 <5%(COV变动率)

 

   当化银厚度在5u〞-15u〞时,测量时间为40S

   准确度规格 ±8%

      度规格 <7%(COV变动率)

 

   测化锡时,测量时间为40S

   准确度规格 ±8%

   度规格 <6% (COV变动率)

 

      准确度公式:准确度百分比=(测试10次的平均值-真值)/真值*100%

   度COV公式: (S/10次平均值)*100%

 

  • Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
  • 完整的统计 准差、 低/高读数趋势线Cp 和 Cpk 因素等
  • 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 9999 每个阶段文件。每个阶段的文件多 25 个不同应用程序。特殊工具"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能

 

 

膜厚仪产品配置及技术指标说明

 

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV1mA

u过滤器:5过滤器自动转换

u检测系统:Pin探测器(可选SDD)

u能量分辨率:159eVSDD:125eV

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:840*613*385mm

u样品移动距离:220*220*10 mm(自动台)

 

1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo ()

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供性能。

  • 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

  • 滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

  • 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台
    激光定位、简易荷载大负载量为5公斤
    软件控制程序进行持续性自动测
  • 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 计算机、打印机(赠送)

  • 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
  • 含Win 7/Win 10系统。
  • Multi-Ray镀层分析软件

注:设备需要配备稳压器,需另计

 

 

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