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X射线测厚仪

简要描述:

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称:X射线测厚仪
型 号:iEDX-150μWT
生 产 商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

更新时间:2023-04-24

品牌ISP/韩国行业专用类型通用
重复性3%能量分辨率125eV
分析含量范围0.1%-99.9%元素分析范围13(Al)-92(U)
价格区间50万-100万仪器种类台式/落地式
应用领域化工,电子

(一)iEDX-150μWT X射线测厚仪产品优势

1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。

2. 多导毛细管配置,光斑尺寸50um

3. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达250*250mm。

4. 激光定位。

  • 可检测软硬板电镀层厚度。

  • 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

  • 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

  • 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

  • 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

  • 软件*升级。

  • 无损检测,一次性购买标样可长期使用。

  • 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供*保姆式服务。

  • 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

(二)iEDX-150μWT X射线测厚仪产品特征

  • 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

  • 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

  • Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析。

  • MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度分析

多镀层厚度同时测量

4.1 单性金属镀层厚度测量。

4.2 合金镀层厚度测量。

4.3 双镀层厚度测量。

4.4 双镀层(其中一层是合金)厚度测量。

4.5 三镀层厚度测量。

4.6 测量点大小:50um。


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